LTE测试仪器发展分析

2009年5月26日 09:10    END China    评论()    

    在LTE射频测量方面，随着新的硬件平台及高速DSP(数字信号处理)技术的采用，已经可以满足测试分析的要求。在一致性测试方面，由于目前协议标准还在细化过程中，现在还没有完全成熟的一致性测试系统，各家厂商都在密切跟踪与开发。安立产品市场部经理林雪聪告诉记者，虽然设备商在积极研发LTE产品，但目前还只是停留在试验的阶段，而LTE产品是否与现有的2G、3G网络融合，是目前运营商部署该网络面临的最大困难，而这也对LTE测试设备及技术提出了挑战，需要考虑与现有2G、3G网络设备互联互通的测试方案。对于测试仪器而言，由于LTE信号带宽最高可达20MHz，这对于测试仪器的频域分析和调制域分析能力都提出了更高要求，分析带宽较窄的频谱分析仪就不适合用于LTE信号的分析与测量。

[1]  [2]  编 辑：石美君