2. 2 防拔插和耐久性测试
防拔插测试主要检测因突然断电而使操作中断后智能卡能否自动恢复。主要涉及的是在正常环境下执行正确的命令序列，COS 写FLASH 时，突然断电，智能卡能够保证卡内的数据依然具有完整性。若命令未能成功执行，验证卡内数据与命令执行前是否完全一致，若一致则表示卡片的防插拔功能是有效的。智能卡的使用寿命是有限的，对智能卡的插拔次数决定了智能卡的物理寿命，一般来说，约在1 万次左右; 而数据存储器的擦写次数决定了集成电路芯片的寿命，各厂家生产的芯片其指标是不同的。故而必须对智能卡实施耐久性测试，检验存储器的擦写次数是否会因为日常使用而超出芯片存储器擦写的最大值。对文件的操作是使用智能卡时主要涉及的内容，因而需要模拟日常使用智能卡的行为，对所有文件的访问频率进行统计，找出具有相对较高访问频率的那些文件，在个人化过程中分散存储这些文件，避免某一块存储区域擦写过度，均衡整个存储器的擦写。
3 结束语
根据COS 的特点给出了COS 的测试方案，对于每个测试项给出了其测试的方法和技术。在测试中，结合对测试结果的分析，进一步补充测试用例。在EVDO 卡的开发中按照文中的测试方案进行了测试，经反复测试，开发的EVDO 卡通过了第3 方测试，该卡正应用于生产。
